檢測介質(zhì)損耗須知的內容

（1）在絕緣設計時(shí)，必須注意絕緣材料的tanδ 值。若tanδ 值過(guò)大則會(huì )引起嚴重發(fā)熱，使絕緣加速老化，甚至可能導致熱擊穿。而在直流電壓下，tanδ 較小而可用于制造直流或脈沖電容器。

（2） 正切值tanδ反映了絕緣的狀況，可通過(guò)測量 tanδ=f（ф）的關(guān)系曲線(xiàn)來(lái)判斷從良狀態(tài)向劣化狀態(tài)轉化的進(jìn)程，故tanδ的測量是電氣設備絕緣試驗中的一個(gè)基本項目。

（3）通過(guò)研究溫度對tanδ值的影響，力求在工作溫度下的tanδ值為小值而避開(kāi)大值。

（4）極化損耗隨頻率升高而增大，尤其電容器采用極性電介質(zhì)時(shí)，其極化損耗隨頻率升高增加很快，當電源中出現高次（如3次、5次）諧波時(shí)，就很容易造成電容器絕緣材料因過(guò)熱而擊穿。

（5）用于沖擊測量的連接電纜，其絕緣的tanδ必須很小，否則所測沖擊電壓通過(guò)電纜后將發(fā)生嚴重的波形畸變，影響到測量的準確性。揚州豪泰提供-檢測介質(zhì)損耗須知的內容。