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高低壓開(kāi)關(guān)柜(通電)試驗臺測試部位包括

更新時(shí)間:2023-02-21      瀏覽次數:695

HTTS型高低壓開(kāi)關(guān)柜通電試驗臺可以分為電路及裝置的試驗。溫升試驗是驗證設備在正常使用條件下,通以額定電流,各部分的溫升值應符合有關(guān)標準的規定。裝在裝置內部的操作手柄,其溫升允許略高些。除非另有規定,對可以接觸但正常工作時(shí)不需觸及的外殼和覆板,允許其溫升提高10K。設備按正常使用情況放置,門(mén)、鎘板、覆板、蓋板都應裝好。試驗方案應選擇損耗最大的方案。進(jìn)行單獨電路的溫升試驗時(shí),電路應通以設計規定的額定工作電流。進(jìn)行裝置的溫升試驗時(shí),在考慮了額定分散系數后,應選擇一個(gè)或幾個(gè)有代表性的并能獲得高溫升的電路,給這些電路通以各自設計規定的額定工作電流。試驗時(shí)輔助電路(包括繼電器、接觸器、脫扣器的線(xiàn)圈)應加上設計規定的額定工作電壓。裝置中如果包含有熔斷器,試驗時(shí)應裝上適合于試驗的熔體(由制造廠(chǎng)規定)。熔體的功率損耗、試驗中所用的外接導體(導線(xiàn))尺寸和布置情況應寫(xiě)入試驗報告中。


高低壓開(kāi)關(guān)柜(通電)試驗臺測試部位包括:


(1)母線(xiàn)連接處以及其他元器件與母線(xiàn)的連接處。


(2)抽屜式設備的母線(xiàn)室、功能單元室和電纜室的空間。


(3)可觸及的門(mén)、手柄和覆板。


以上三種部位均應盡量選產(chǎn)生溫升高點(diǎn)進(jìn)行測量。當溫度變化不超過(guò)1℃/h時(shí),則可記錄其溫升值。其值應不超過(guò)有關(guān)標準的規定值。裝置內絕緣沒(méi)有破壞,元器件在設備內的溫度條件下正常工作,則溫升試驗合格。


豪泰科技生產(chǎn)的高低壓開(kāi)關(guān)柜通電試驗臺的介電性能試驗應根據各回路額定絕緣電壓分別進(jìn)行試驗。應將那些不能耐受這種試驗電壓的電器元件(如電子設備、電容器等)從電路中拆除。 施加試驗電壓的時(shí)間和方法:出廠(chǎng)試驗為1s點(diǎn)試。型式試驗為1min,施加電壓從30%~50%的試驗電壓開(kāi)始,約5s升到規定值。1min后將試驗電壓逐漸降到零。


如果設備已經(jīng)過(guò)一次耐壓試驗,而需再試驗時(shí),電壓應降到規定值的85%,試驗時(shí)間為11s。


試驗電壓施加部位:


(1)主電路帶電部件與地(框架)之間:


(2)主電路各相之間;


(3)主電路與不同它直接連接的輔助電路之間;


(4)輔助電路與地之間;


(5)不同電壓等級的輔助電路之間。


試驗電壓值應符合有關(guān)標準的規定值。


用絕緣材料做成或用絕緣材料覆蓋的部件。如門(mén),隔板、絕緣母線(xiàn)、手柄等,可用金屬箔包覆絕緣層在其與導電部件間施加上述(1)~(5)部位相應規定值的1.5倍的電壓值。試驗過(guò)程中,沒(méi)有發(fā)生絕緣擊穿,表面閃絡(luò )或電壓突然下降,則試驗合格。


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