產(chǎn)品分類(lèi)
Products輸電線(xiàn)路參數測試儀(異頻法)使用法則
1.儀器現場(chǎng)測試接線(xiàn)
異頻線(xiàn)路參數測試儀測試開(kāi)始前,將測量端的線(xiàn)路引下線(xiàn)可靠接入大地,并將面板左上角的儀器接地端子可靠接入大地,然后分別將電源輸出信號地N和電壓輸入信號地UN分別可靠接入大地,將測試電源輸出端子A、B、C連接到線(xiàn)路測量引下線(xiàn)儀器電源側,最后將電壓測量端子UA、UB、UC接入線(xiàn)路引下線(xiàn)線(xiàn)路側,如圖5-1,儀器測試接線(xiàn)完成后,再打開(kāi)線(xiàn)路引下線(xiàn)的接地,以保證設備和操作人員安全。
儀器測試采用四極法原理,被測線(xiàn)路需要電流引下線(xiàn)3根,電壓引下線(xiàn)3根,電流測試線(xiàn)位于測試電源側,電壓引下線(xiàn)位于線(xiàn)路側,以消除測量端的測試線(xiàn)和接觸電阻的影響。如果測試引下線(xiàn)只引出3個(gè)端子,盡量用截面積足夠大的導線(xiàn),并保證與線(xiàn)路測量端可靠連接,避免引入較大的接線(xiàn)誤差。
儀器測試接線(xiàn)極為簡(jiǎn)捷,只需一次接入上述測試線(xiàn),通過(guò)儀器自動(dòng)控制測量方式和被測線(xiàn)路對端接線(xiàn)方式配合,即可完成所有序參數測量,大大提高測試效率和操作安全性。零序測試時(shí),儀器內部已經(jīng)將A、B、C三相短接輸出。但電壓測試通道會(huì )測試到引線(xiàn)電阻,導致引起額外的誤差。 如果線(xiàn)路很短,為確保測試準確度,零序阻抗測試時(shí),請嚴格按照接線(xiàn)圖接線(xiàn)。儀器內部已經(jīng)將N、UN、左上角的儀器接地端等三個(gè)柱子可靠連接,現場(chǎng)接線(xiàn)時(shí)可以只連接左上角的儀器接地端到大地就可以了。
能在儀器輸出信號與干擾信號之比為1:10的條件下穩定準確完成測試。 具有二相線(xiàn)路工頻參數測試的功能。
重量 主機65Kg
輸電線(xiàn)路參數測試儀(異頻法)使用環(huán)境 使用環(huán)境:環(huán)境溫度:-15℃~40℃;相對濕度:≤90%
外形尺寸 550*440*585mm3
重量 61kg
正序參數測試接線(xiàn)及對端操作
在正序電容(正序開(kāi)路)測試中,被測線(xiàn)路對端(相對于測量端)開(kāi)路,將儀器電源輸出引至被測線(xiàn)路測量端外側電流引下線(xiàn),電壓測量輸入端接至電壓引下線(xiàn),三相、兩相、單相回路的測試接線(xiàn)如圖5-1所示。
進(jìn)行正序阻抗(正序短路)測試時(shí),中試控股將對端短接接地,如圖5-2。實(shí)際測量中,由于儀器測試電源三相平衡度較高,對端可以接地,不會(huì )引入超過(guò)精度要求的測量誤差。這樣,可以與零序阻抗測試時(shí)的對端狀況保持一致,簡(jiǎn)化對端操作,提高工作效率。
3.零序參數測試接線(xiàn)及對端操作
在零序電容(零序開(kāi)路)測試中,通過(guò)儀器內部的控制回路切換測試信號連接方式,實(shí)際的測試接線(xiàn)相當于圖5-3所示的連接關(guān)系。零序電容測試中,測量端三相短接,儀器只輸出一相測試電源到被測線(xiàn)路。揚州豪泰對端保持三相開(kāi)路狀態(tài),不影響測試準確度,與正序電容狀態(tài)一致,可以簡(jiǎn)化對端操作,提高工作效率。
零序阻抗(零序短路)測試時(shí),將對端線(xiàn)路短接,并可靠接至大地,如圖5-4所示,其余信號引線(xiàn)與零序電容測量時(shí)保持一致。
4.互感測試接線(xiàn)及對端操作
測試兩條輸電線(xiàn)路間的互感時(shí),被測線(xiàn)路測量端和對端三相分別短接,對端接大地,將豪泰科技儀器輸出C和電壓測量端子UC分別接入被測線(xiàn)路1的測試引下線(xiàn),被測線(xiàn)路2的測量端引下線(xiàn)接入面板互感測量端子UH(UC),端子UL(UN)接大地,如圖5-5所示。
5.耦合電容測試接線(xiàn)及對端操作
測試兩條輸電線(xiàn)路間的耦合電容時(shí),被測線(xiàn)路1,2的測量端和對端三相分別短接,對端不接地,被測線(xiàn)路1的電流引下線(xiàn)接至儀器輸出端C,電壓引下線(xiàn)接至電壓測量端UC,被測線(xiàn)路2的首端分別接至UN和N端,N端接大地,如圖5-6。
圖5-6的電路實(shí)際上測量的是線(xiàn)路1、2之間的耦合電容和被測線(xiàn)路1的零序電容之和,所以進(jìn)行耦合電容測試前應先測量被測線(xiàn)路1的零序電容。